广州市昆德科技有限公司

guangzhou kunde technology co.,ltd

产品介绍

微波光电导载流子复合寿命测试仪(WJ-100C)

WJ-100C型微波光电导载流子复合寿命测试仪是参照半导体设备和材料国际组织SEMI标准MF1535-0707及国家标准GB/T 26068-2010设计制造。并且我单位是微波反射法国家标准起草单位之一。本设备采用微波反射无接触光电导衰退测量方法，适用于硅块、1mm厚度以下硅片、电池片少数载流子寿命的测量，提供无接触、无损伤、数字显示的快速测量。寿命测量可灵敏地反映半导体重金属污染及缺陷存在的情况，是半导体质量的重要检测项目。

寿命测量范围：0.25μs-10ms；样品电阻率下限>0.5Ω·cm。

可配用工控机：LMCS-1是我公司最新研发的数据采集测量显示系统，微计算机系统，触摸屏，配合我公司生产的高频和微波少子寿命仪使用，操作更简单、快速，无需手动调节波形，直接点击“开始采集”，等待几秒钟即可显示最大、最小、平均寿命值和测量波形，整个测量过程完全自动化。

公司其他产品

电阻率方阻测试仪	四探针电动测试架	导电型号测试仪	红宝石四探针头系	数字式硅晶体少子	高频光电导少子寿
四探针电阻率方阻	双组合四探针方阻	电阻率/方阻标准	硅锭载流子寿命扫	电容电压（C-V）	微波扫描无接触少

公司简介

广州市昆德科技有限公司是以世界著名的中国半导体物理学家黄昆、谢希德姓名中的最后一字命名的半导体科技公司，2003年10月9日经广州市工商行政管理局批准成立。公司以原在广州半导体材料研究所，从事半导体材料测试及仪器开发，长达30多年历史的数位高级工程师及有创业精神的年青大学生为主要技术力量，以中国老一辈科学家为榜样，为创造出最好性价比的产品而努力工作

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英文名称：		guangzhou kunde technology co.,ltd
联系人：		王昕
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