一、设备型号：YHMT－AAA二、设备用途：用于单晶硅和多晶硅太阳能组件电性能参数自动测试和结果记录。三、设备主要技术指标原理 ： 模拟光源3.1.1、光谱匹配度：范围符合IEC60904-9光谱辐照度分布要求(AM1.5)3.1.2、总辐照强度：100mW/cm23.1.3、辐照度调节范围：70mW/cm2～120mW/cm23.1.4、辐照不均匀度：±2%3.1.5、辐照不稳定度：±2%3.1.6、单次辐照脉冲时间：10ms(定制20-150MS)3.1.7、具有闪光次数记数提示功能（更换归零重置）3.1.8、氙灯使用寿命30万次（德国）3.1.9、辐照方向：垂直向上出光3.2、测量范围3.2.1、有效测试面积：2200mm×1200mm3.2.2、有效测试范围：5W～450W幅面接受最大组件面积功率3.2.3、测量电压：0mV～200V（分辨率1mV）3.2.4、测量电流：0m A～20A（分辨率1mA）3.2.5、环境温度：15℃～35℃3.3、测量精度3.3.1、测量结果不一致性：±0.5%3.3.2、测量结果误差：±2%
3.4、测量方式：四线测量3.5、测量参数：Isc、Voc、Pmax、Vm、Im、FF、EFF、Temp、Rs、Rsh3.6、测量间隔时间：5秒3.7、数据采集：I-V曲线和P-V曲线含8000个数据采集点3.8、测试条件校正：3.8.1、辐照度自动补偿3.8.2、温度自动补偿3.9、温度测量3.9.1、温度补偿和显示3.9.2、内置非接触红外测温3.10、测试结果3.10.1、测试结果语音报数和语音提示3.10.2、显示测试时间和图形化参数（I-V特性曲线）3.11、测试报告3.11.1、当前工作界面显示并可记录I-V特性曲线3.11.2、可将所有组件的主要测试参数保存到硬盘的指定文件3.11.3、指定的文件可以自主命名3.12、数据汇总与打印3.12.1、根据设定时间段或随时进行数据汇总3.12.2、以Excel格式打印（包括I-V特性曲线累计输出）3.13、专用软件3.13.1、温度补偿系数输入3.13.2、日期名称行列数输入3.13.3、序列号起始设置自动递增3.13.4、不良品参数范围设置3.13.5、参数集中控制
3.13.5、参数集中控制3.14、工作时间：设备可连续工作24小时以上四、设备整机配置4.1、 测试主机（含电子负载）：一台4.2、 光源（含光学系统）：一套4.3、 计算机：一台4.4、 高速数据采集A/D板卡：一块4.5、 专用测量软件：一套4.6、 标准电池（用于辐照度校正补偿和均匀性测量）光强补偿 |
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