电阻率+PN测试模组(RPN2010)

产品集成方阻（电阻率）、PN型、温度三探头一体式测量，可广泛用于硅片分选机、生产过程分析等光伏及半导体测量领域。本产品由如下部分组成：

1、控制主机（九域品牌）

可实现电阻率探头、PN探头、温度探头、光纤信号的统一管理；与远程电脑进行网络通讯。

2、方阻（电阻率）探头（九域品牌）

主要利用涡电流测试原理，非接触测试半导体材料，石墨烯，透明导电膜，碳纳米管，金属等材料的电学特性。

3、PN类型检测探头（九域品牌）

利用光伏效应，通过测量由光伏效应引起的表面光电压 (SPV), 分析半导体材料相关性质。

 

本仪器为非接触，非损伤测试，具有测试速度快，重复性佳，测试敏感性高，可以直接测试产品片等优点。

 

支持标准通讯协议和自定义通讯协议