美国Bruker公司成立于50年前，是在纳斯达克上市的世界著名的高科技分析仪器跨国企业，以生产台阶仪、光学轮廓仪、质谱仪、核磁共振谱仪、傅立叶红外/拉曼光谱仪、原子力显微镜、摩擦磨损测试设备等高水平、高精度分析仪器享誉全球科技界。
客户涵盖大学、研究所以及太阳能、 LED、 触摸屏、 半导体、 电子等工业领域，处于市场的领先地位，业内第一品牌。
创新点:用于生产和研发的非接触式三维光学轮廓仪ContourGT系列结合先进的64位多核操作和分析处理软件，专利技术白光干涉仪（WLI）硬件，推出历年来来最先进的3D光学表面轮廓仪系统。0.5倍至200倍的放大倍率，在极宽的测量范围内，对样品表面形状和纹理进行表征。高分辨率摄像头可选配件，提高了横向分辨率和GR&R测量的重复性。多核处理器和64位软件使数据分析速度提高十倍。高亮度的双LED照明专利技术提高测量质量.最佳化的硬件设计提高了仪器对震动的容忍度和GR&R测量的能力。专利的自动校准能力确保了仪器与仪器之间的相关性，测量准确度和重复性。
非接触测量模式－－－对样品表面无损伤
测试时间短， 垂直方向上可达亚纳米级分辨率
快速、准确测量多个样品 ，实现高速材料表面表征
PSI 和 VSI 标准测试模式.
广泛的应用领域，操作简单方便
高分辩、高速测量、高重复性、高可靠性的完美结合
IMOA 闭环控制 扫描.
完美的线性和重复性
功能强大、行业领先的专业分析软件：
※台阶高度
※表面粗糙度
※多区域测量
※弯曲和应力测量
※角度测量
※厚膜分析软件包－适用透明、半透明厚膜厚度及膜表面粗糙度分析
※光学软件包－应用于光学级表面表征
※数据存储制造业软件包－适用于硬盘部件的测量检测
※图像缝合功能－适用于大面积高分辨图像测量
※提供精确的、重复性高的三维测量方案 |
产品介绍
