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晶圆厚度综合测试系统
(OWT-200)
OWT-200型晶圆厚度综合测试系统，采用光学方法测量晶圆、蓝宝石、Sic、Si、玻璃等材质的表面特征，在无需任何接触的情况下测量厚度、TTV、LTV、弯曲度、平整度等，可在线和离线测量。
更新:2014-09-29
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无接触少子寿命扫描仪
(HS-MWR-2S3)
合能阳光无接触少子寿命扫描仪(HS-MWR-2S-3)功能强大，能够对单晶硅棒、多晶硅块及硅片提供快速、无接触、无损伤、高分辨率的多功能扫描测试，其通过微波光电衰退特性原理来测量非平衡载流子寿命的，并且单晶硅棒、多晶硅块无须进行特殊处理。少子寿命测试量程从0.5μs到300μs,P型电阻率量程为0.8-10...
更新:2014-09-29
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太阳能电池和组件在线检测系统
(PV-LIT)
PV-LIT太阳能电池和组件在线检测系统可对太阳能电池及完整的太阳能组件的各种缺陷进行全自动检测。PV-LIT可以在线非接触快速稳定的连续检测生产过程中的产品，检测时间小于1秒钟。另外，客户也可选择接触系统（DLIT）进行单个抽检及详细实验。PV-LIT可对全程工艺进行检测，观察缺陷图像，可以有效的...
更新:2014-09-29
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PL光致发光测试系统
(NIR-PLuS-B)
NIR-PLUS/B检测系统是一款光伏检测的综合分析系统，既采用红外技术对裂纹，孔洞，微结晶，杂质和其他硬质点等进行检测，又使用PL（光致发光）技术对杂质及缺陷分布进行检测，对造成少子寿命降低的原因进行系统的分析。是减低生产成本，提高产品品质，促使公司竞争力革命性增长的必不可少的检测设备。
更新:2014-09-29
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太阳能电池量子效率测试仪
(PVE300)
我公司销售的PVE300是基于Bentham公司专业的技术及25年的行业经验，PVE300能够快速并准确的给出分析数据，是经过市场检验的被广泛应用的著名的国际品牌。太阳能电池光谱响应测试，或称量子效率QE（Quantum Efficiency）测试，或光电转化效率IPCE (Monochromatic Incident Photon-to-Electron Conver...
更新:2014-09-29
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太阳能电池量子效率测试仪
(PH-IQE200)
PH-IQE200为太阳能电池光谱响应测试，或称量子效率QE（Quantum Efficiency）测试，或光电转化效率IPCE (Monochromatic Incident Photon-to-Electron Conversion Efficiency) 测试等，广义来说，就是测量光电材料的光生电流特性在不同波长光照条件下的数值。
更新:2014-09-29
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AAA级太阳能模拟器
美国进口SS50AAA-PLC太阳模拟器是当今世界最高等级的太阳能模拟器，国际公认的用来模拟太阳辐照度和频谱的设备。太阳模拟器广泛应用于太阳能电池特性测试，光电材料特性测试，生物化学相关测试，光学催化降解加速研究，皮肤化妆用品检测，环境研究等。在光伏领域里，配以数据测试设备，用来测试光伏...
更新:2014-09-29
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太阳能电池I-V特性分析系统
(PET-CC)
太阳能光伏电池的所有性能表征手段中，IV特性测试无疑是最直观、最有效、最被广泛应用的一种方法。我公司进口美国PET-CC太阳能电池I-V特性分析系统系列设备可以分析高达20.0安培的IV特性。数据测量采用经典的探针技术，精确计算太阳能电池的各项参数，生成可打印的测试报告，并保存测试数据。该系统...
更新:2014-09-29
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激光椭偏仪
(PH-LE)
多角度激光椭偏仪(PH-LE型)专门针对晶硅太阳能电池绒面上的减反膜测量，能够测量薄膜厚度及其光学常数，使用632.8nm波长氦氖激光器，具有极高的精确度和准确度。
更新:2014-09-29
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无接触少子寿命测试仪
(HS-SIM)
合能阳光无接触少子寿命测试仪(MWR-SIM)，是一款功能强大的无接触少子寿命测试仪，能够对单晶硅棒、多晶硅块及硅片提供快速、无接触、无损伤单点少子寿命测试，其通过微波光电衰退特性原理来测量非平衡载流子寿命的，并且单晶硅棒、多晶硅块无须进行特殊处理。少子寿命测试量程从0.5μs到300μs,P型电...
更新:2014-09-29
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少子寿命测试仪
(HS-CLT)
合能阳光少子寿命测试仪(HS-CLT)，是一款功能强大的少子寿命测试仪，不仅适用于硅片少子寿命的测量，更适用于硅棒、硅芯、检磷棒、检硼棒、籽晶等多种不规则形状硅少子寿命的测量。少子测试量程从1μs到6000μs，硅料电阻率下限达0.1Ω.cm(可扩展至0.01Ω.cm)。测试过程全程动态曲线监控，少子寿命测量...
更新:2014-09-29
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红外探伤仪
(NIR-01)
红外探伤测试仪是专门用于多晶硅片生产中的硅块硅棒硅片的裂缝、杂质、黑点、阴影、微晶等缺陷探伤的仪器。
更新:2014-09-29
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原生多晶型号测试仪
(HS-PSTT)
合能阳光原生多晶型号测试仪(HS-PSTT)，是一款高端半导体材料型号测试仪器，具有大量程测试范围的特点，尤其适用于西门子法原生硅料生产企业的高阻硅料（含硅芯、检磷棒、检硼棒等）以及各种低阻硅料型号测量，型号电阻率测量范围为0.0001～19999Ω?cm，涵盖了目前半导体及太阳能级硅料生产企业的各...
更新:2014-09-29
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硅片表面线痕深度测试仪
(HS-SRT-301)
硅片表面线痕深度测试仪(HS-SRT-301)可用于测试硅片的表面线痕深度，具有便于携带、触摸屏便捷操作、液晶显示、节能等优点，同时内置打印机和充电电池，所有设计均符合JIS,DIN,ISO,ANSI等标准。
更新:2014-09-29
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全自动光谱椭偏仪
(PH-ASE)
全自动光谱椭偏仪(PH-ASE型)把使用者从烦琐的手动调节样品高度和倾斜度工作中解放出来，样品对准是为了保证椭偏仪测量的可重复性和精确性。已获得专利的自动样品对准装置能够显著减少操作失误；能够工作于透明或反射基底；能够进行地貌图测量，包括翘曲晶片。
更新:2014-09-29
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金属四探针电阻率方阻测试仪
(HS-MPRT-5)
阳光的金属四探头电阻率方阻测试仪（HS-MPRT-5）是用来测量硅晶块、晶片电阻率及扩散层、外延层、ITO导电箔膜、导电橡胶等材料方块电阻的小型仪器.本仪器按照半导体材料电阻率的国际及国家标准测试方法有关规定设计。 它主要由电器测量部份（主机）及四探头组成，需要时可加配测试架。 为减小体积，...
更新:2014-09-29
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硅材料碳氧含量测试仪
(HS-OCT-2000)
■适合于硅材料的氧、碳含量的测定；■可实现硅料中氧碳含量自动、快速、准确的测量；■具备完整的谱图采集、光谱转换、光谱处理、光谱分析及输出功能，使得操作更简单、方便、灵活；■全密封防潮、防尘干涉仪的设计使仪器对环境的适应能力更强；■外置式红外光源部件的设计使得仪器具有更高的热学稳定性...
更新:2014-09-29
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硅片缺陷观测仪
(HS-WDI)
硅片缺陷观测仪(HS-WDI)，于对硅片的缺陷进行观察，效果非常明显，包括肉眼无法观测的位错、层错、划痕、崩边等。 实时对图像进行分析、测量和统计，提高传统光学仪器的使用内涵。配合投影仪和计算机等显示、存储设备，能更好的观测和保存研究结果。
更新:2014-09-29
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手动无接触硅片测试仪
(HS-NCS-300)
手动无接触硅片测试仪(HS-NCS-300型)可以测量硅片厚度、总厚度变化 TTV 、弯曲度，该仪器适用于 Si ， GaAs ， InP ， Ge 等几乎所有的材料，所有的设计都符合 ASTM( 美国材料实验协会 ) 和 Semi 标准，确保与其他工艺仪器的兼容与统一。
更新:2014-09-29
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半自动无接触硅片测试仪
(HS-NCS-200SA)
半自动无接触硅片测试仪(HS-NCS-200SA型)可以测量硅片厚度、总厚度变化TTV、弯曲度、翘曲度、单点和总体平整度，该仪器适用于Si，GaAs，InP，Ge等几乎所有的材料，强大的软件功能能够在几秒内测试硅片的厚度、总厚度变化TTV、弯曲度、翘曲度、单点和总体平整度，所有的设计都符合ASTM(美国材料实验...
更新:2014-09-29
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