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全自动硅片测厚仪 全自动硅片测厚仪
全自动硅片测厚仪适用于硅片、箔片等各种材料的厚度精确测量。
更新:2014-08-19
·北京羲和阳光科技发展有限公司
主营:手持式电阻率测试仪,硅料检测分选仪,非接触硅片电阻率厚度,碳氧含量测试仪,硅棒\硅...
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光伏检测显微镜 光伏检测显微镜
随着多晶硅,硅片,太阳能电池片工艺的不断发展与提高,光伏产业对硅片及电池片质量的检测要求越来越高。本仪器专门用于对硅片以及太阳能电池片的显微质量检测,检测结果快速直观准确。
更新:2014-08-19
·北京羲和阳光科技发展有限公司
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太阳能电池电致发光EL缺陷检测仪 太阳能电池电致发光EL缺陷检测仪
太阳电池缺陷检测仪是依据太阳电池的电致发光原理而研制的用于太阳电池组件内部缺陷检测的专用仪器。根据太阳电池、组件中电池片发光亮度的差异清楚地显示组件中的裂片(包括隐裂和显裂)、劣片及焊接缺陷。太阳能电池电致发光EL缺陷检测仪分为在线、离线型单片、组件缺陷检测仪、便携式太阳能电池...
更新:2014-08-19
·北京羲和阳光科技发展有限公司
主营:手持式电阻率测试仪,硅料检测分选仪,非接触硅片电阻率厚度,碳氧含量测试仪,硅棒\硅...
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太阳能电池IV曲线测试仪 太阳能电池IV曲线测试仪
太阳能电池I-V特性测试是指在一定光照下,输出到负载的电流和和电流两端的电压的关系曲线,IV特性能够充分的体现出太阳能电池的转换效率。传统的实验室测量I-V特性曲线的方法是通过调节可变电阻的大小,改变电池两端的输出电压,这种方法设计简单,但是精确度不高,不满满足实际应用的需要。本IV曲...
更新:2014-08-19
·北京羲和阳光科技发展有限公司
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透过率测试仪 透过率测试仪
透过率测试仪 衡量太阳能电池的各组件中背板性能好坏的重要指标之一便是水蒸汽渗透率。若背板阻隔水蒸汽渗透的性能不良,则空气中的湿气(尤其是阴雨天湿气更大)会透过背板进入到内侧,水蒸汽的渗透会影响到EVA的粘结性能,导致背板与EVA脱离,进而使更多湿气直接接触电池片而使电池片被氧化。
更新:2014-08-19
·北京羲和阳光科技发展有限公司
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多角度激光椭偏仪 多角度激光椭偏仪
多角度激光椭偏仪产品型号:进口。简要描述:高性能椭偏仪,针对粗糙表面硅太阳能电池的测量装置,拥有业内最高测量精确度。
更新:2014-08-19
·北京羲和阳光科技发展有限公司
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焊条粘合力测量仪 焊条粘合力测量仪
本仪器专门用于电池片焊条焊接牢固度的拉力测量。系统机架完全采用金属结构设计,以保证系统的牢固性,提供精准测量的必要基础条件。电池片夹板、焊条夹头、手动螺旋控制装置等每一个设计细节均考虑到使用的便捷性,是您测量电池片焊条焊接粘合力的得力工具。
更新:2014-08-19
·北京羲和阳光科技发展有限公司
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硅料检测分选仪 硅料检测分选仪
硅料检测分选仪该仪器专门为硅料分选而设计,可以快速准确的测量PN型、重掺、电阻率。对碎片料、米粒料、片料,块料,头尾料、埚底料、边皮料均可测量。系统同时配备三探针探头、四探针探头和重掺镊,方便您的不同测量需求。
更新:2014-08-19
·北京羲和阳光科技发展有限公司
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便携式电阻率测试仪 便携式电阻率测试仪 (XH100)
本仪器按照半导体材料电阻率的国际及国家标准测试方法有关规定设计,它主要由电器测量部份(主机)及四探针探头组成。样品测试电流由高精宽的恒流源提供,随时可进行校准,以确保电阻率测量的准确度。对0.1~19.9Ω*cm标准样片的测量误差不超过±5%。
更新:2014-08-19
·北京羲和阳光科技发展有限公司
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硅片电阻测试仪 硅片电阻测试仪
硅片电阻测试仪硅片电阻测试仪是用来测量硅片、硅单晶、锗单晶电阻率的测量仪器。它由电气测量部份(简称:主机)、测试架、四探针头及专业测量软件组成
更新:2014-08-19
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硅晶体定向、缺陷、应力测试仪 硅晶体定向、缺陷、应力测试仪
硅晶体定向、缺陷、应力测试仪用于研究硅晶体内部微观结构,包括:单晶定向、检验缺陷、测定点阵参数、测定残余应力等。
更新:2014-08-19
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硅片红外探伤系统 硅片红外探伤系统
太阳能多晶硅晶片和单晶硅晶片的生产过程涉及到机械,湿化学,热学和电子物理过程,从硅碇上切割下的晶片,进行蚀刻,掺杂。所有这些工艺过程,以及工艺间的晶片搬运,都会引入应力,从而导致晶片的缺陷。例如 微裂纹(包括硅片表层内部的微裂纹)、针孔、杂质、污垢、内部气泡等。 在制作电池片以前...
更新:2014-08-19
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硅棒\硅锭红外探伤仪 硅棒\硅锭红外探伤仪
硅棒\硅锭红外探伤仪实现对太阳能硅块快速、无接触的缺陷检测。检测的缺陷类型包括: 裂纹和空洞、SiC杂质、 微晶聚集结构、金属沉淀。 红外光源、红外滤片、红外采集模块均为进口材料;用户在计算机中可以轻松对硅块进行探伤分析;通过红色线激光定位装置快速准确定位伤痕位置。
更新:2014-08-19
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少子寿命测试仪 少子寿命测试仪
少子寿命测试仪 XH-120是一款经济实用的硅晶片少子寿命测量仪器,控制装置既适用于研究也适用于生产。采用准稳态光电导(QSSPC) 测量方法测量,此方法是测量硅片,掺杂物扩散,和少子寿命的最佳方法。
更新:2014-08-19
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太阳能级硅少子寿命测试仪 太阳能级硅少子寿命测试仪
太阳能级硅少子寿命测试仪功能特点:本设备是按照国家标准GB/T1553“硅单晶少数载流子寿命测定的高频光电导衰减法”设计制造。高频光电导衰减法在我国半导体集成电路、晶体管、整流器件、核探器行业已运用了三十多年,积累了丰富的使用经验,经过数次全国十多个单位巡回测试的考验,证明是一种成熟可...
更新:2014-08-19
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硅片表面线痕测试仪 硅片表面线痕测试仪
硅片表面线痕测试仪对硅片表面的线痕进行轻松测量。该设备带专用控制器的高精度,高性能,操作简单,显示一目了然。
更新:2014-08-19
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硼磷含量测试仪 硼磷含量测试仪
该测试仪可以准确的测出硅料中硼、磷等多达70多种杂质的含量。 能够进行定性及定量分析,能实现一次进样多元素同时分析,分析软件及数据处理系统便于操作,功能强大。
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手动硅片测厚仪 手动硅片测厚仪
手动硅片测厚仪适用于硅片、箔片等各种材料的厚度精确测量。
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自动41点精密测厚仪 自动41点精密测厚仪
自动41点精密测厚仪是硅片几何测量的小型台式仪器。该指数是基于两个厚钢板相反对方展开,每个板块包含了一套非接触式电容式传感器,可测硅片厚度、TTV、弯曲度、翘曲度等
更新:2014-08-19
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电阻率厚度测试仪 电阻率厚度测试仪
电阻率厚度测试仪产品型号:进口功能特点专为测量太阳能硅片电阻率及厚度所设计,操作简单,一次测量,同时显示电阻率及厚度值。利用电容及电感传感器同步测量硅片的厚度及电阻率。可以自校正,测量环境的温度及湿度对测量结果影响很小。可以连接电脑,采集更多的测量结果,比如TTV、平均值、最大最...
更新:2014-08-19
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