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电阻率方阻测试仪
(KDB-1)
广量程，七个电流档位，可在更广范围内测量样品的电阻率或方块电阻，可连接计算机软件进行精确测量。
更新:2016-11-15
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四探针电动测试架
(KDDJ-3)
探头可自动上下，测量硅片更加快捷。
更新:2016-09-02
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导电型号测试仪
(STY-3)
该仪器是严格按照国标GB/T1550-1997和ASTMF42（非本征半导体村料导电类型的标准测试方法）中的热探针及整流导电类型测试方法设计的导电类型鉴别仪。
更新:2016-08-31
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红宝石四探针头系列
(KDT系列)
该产品采用特殊红宝石镶嵌工艺，小游移率，使得测量数据更加精确。
更新:2016-08-31
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数字式硅晶体少子寿命测试仪
(LT-100C)
该设备是按照国家标准GB/T1553“硅单晶少数载流子寿命测定的高频光电导衰减法”设计制造。可测低阻单晶寿命值。
更新:2016-08-31
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高频光电导少子寿命测试仪
(LT-1)
仪器采用GB/T1553-1997中硅单晶少数载流子寿命测定高频光电导衰减法.
更新:2016-08-31
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四探针电阻率方阻测试仪
(KDY-1)
KDY-1型四探针电阻率测试仪是广州市昆德科技有限公司严格按照硅片电阻率测量的国际标准（ASTM F84）及国家标准设计制造。
更新:2016-08-30
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双组合四探针方阻/电阻率测试仪
(KDB-3)
该仪器为双电测半导体晶片电阻率或方块电阻，该测试方法能消除探针间距不等及针尖机械游移变化的影响，具有自动修正边界效应之功能。
更新:2016-08-30
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[新品] 电阻率/方阻标准测量装置
(KDX系列)
KDX系列产品为测量硅片或锗片电阻率的高精度检测设备，可用于对产品检测要求严格的单位或半导体检测中心，高校等使用。
更新:2016-08-30
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[新品] 硅锭载流子寿命扫描测试系统
(WJ-200B)
WJ-200B是针对大尺寸硅锭的测量而设计，可沿端面中轴线（Y轴），从硅锭头部向尾部以选定的间隔扫描测量；可在端面X轴方向从左到右（或从右到左），以选定的间隔扫描测量；可对整个端面做全扫描测量。以上三种测试方式均可由专用软件绘制测试结果彩色分布图、等高图、曲线图。
更新:2016-08-30
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电容电压（C-V）特性测试仪
(KCV-300)
KCV-300型电容电压（C-V）特性测试仪是测试频率为1MHz的数字式电容测试仪器。专用于测量半导体器件PN结势垒在不同偏压下的电容量，也可测试其它电容。
更新:2016-08-30
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微波光电导载流子复合寿命测试仪
(WJ-100C)
WJ-100C型微波光电导载流子复合寿命测试仪是参照半导体设备和材料国际组织SEMI标准MF1535-0707及国家标准GB/T 26068-2010设计制造。
更新:2016-08-30
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微波光电导载流子复合寿命测试仪
(WJ-100B)
WJ-100B型微波光电导载流子复合寿命测试仪是参照半导体设备和材料国际组织SEMI标准MF1535-0707及国家标准GB/T 26068-2010设计制造。
更新:2016-08-30
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微波光电导载流子复合寿命测
(WJ-100A)
WJ-100A型微波光电导载流子复合寿命测试仪是参照半导体设备和材料国际组织SEMI标准MF1535-0707及国家标准GB/T 26068-2010设计制造。用于测1mm以下的硅片。
更新:2016-08-30
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[新品] 微波扫描无接触少子寿命测试仪
(WJ-200A)
交易类型:产品名称:硅锭载流子寿命扫描测试系统产品型号:WJ-200B厂商:广州市昆德科技有限公司编号:日 期:2016-6-21单价:交易类型:产品名称:微波扫描测试系统产品型号:WJ-200A厂商:广州市昆德科技有限公司编号:日 期:2016-6-17单价:
更新:2016-08-30
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