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双组合四探针方阻/电阻率测试仪
(KDB-3)
该仪器为双电测半导体晶片电阻率或方块电阻，该测试方法能消除探针间距不等及针尖机械游移变化的影响，具有自动修正边界效应之功能。
更新:2016-08-30
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[新品] 电阻率/方阻标准测量装置
(KDX系列)
KDX系列产品为测量硅片或锗片电阻率的高精度检测设备，可用于对产品检测要求严格的单位或半导体检测中心，高校等使用。
更新:2016-08-30
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微波光电导载流子复合寿命测试仪
(WJ-100C)
WJ-100C型微波光电导载流子复合寿命测试仪是参照半导体设备和材料国际组织SEMI标准MF1535-0707及国家标准GB/T 26068-2010设计制造。
更新:2016-08-30
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微波光电导载流子复合寿命测
(WJ-100A)
WJ-100A型微波光电导载流子复合寿命测试仪是参照半导体设备和材料国际组织SEMI标准MF1535-0707及国家标准GB/T 26068-2010设计制造。用于测1mm以下的硅片。
更新:2016-08-30
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[新品] 微波扫描无接触少子寿命测试仪
(WJ-200A)
交易类型:产品名称:硅锭载流子寿命扫描测试系统产品型号:WJ-200B厂商:广州市昆德科技有限公司编号:日 期:2016-6-21单价:交易类型:产品名称:微波扫描测试系统产品型号:WJ-200A厂商:广州市昆德科技有限公司编号:日 期:2016-6-17单价:
更新:2016-08-30
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光纤激光划片机
(GSC-10F/GSC-20F)
光纤激光器，对环境适应性更强光束质量更好（基模TEM00）,切缝更细，边缘更平整光滑转换效率更高，运行成本更低，设备体积更小（风冷）真正50000小时免维护，不间断连续运行，无消耗性易损件更换软件升级至3.0版
更新:2015-10-28
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半导体端泵激光划片机
(GSC-10E)
半导体端面泵浦；声光调制；X-Y运动工作台无需更换氪灯，端面泵浦效率更高强迫风冷无需水冷光束质量更好，运行成本更低，免维护时间更长整机一体化设计，没有外部连接；安装移动简单方便改进升级换代产品，软件升级至3.0版长时间运行稳定可靠
更新:2015-10-28
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半导体侧泵激光划片机
(GSC-50S)
半导体侧面泵浦；声光调制；X-Y运动工作台无需更换氪灯，端面泵浦效率更高强迫风冷无需水冷光束质量更好，运行成本更低，免维护时间更长整机一体化设计，没有外部连接；安装移动简单方便改进升级换代产品，软件升级至3.0版长时间运行稳定可靠
更新:2015-10-28
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太阳能电池IV测试仪
(VS 6821M)
电池片I-V特性测量，I-V Tester，电池片效率测量，电池片分类，电池片温度系数测量，便携式I-V曲线测量仪，有机太阳能电池,，染料敏化太阳能电池，太阳能模拟器。
更新:2015-07-08
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全自动硅片清洗甩干机
(CIT)
CIT 型全自动硅片清洗甩干机系列：CIT型全自动硅片清洗甩干机是一种对太阳能硅片等产品进行快速清洗、离心脱水，然后再进行低温烘干的全自动化设备。主要用于硅圆片、太阳能电池等类似材料的清洗甩干。是光伏、半导体湿法清洗工艺中必不可少的主要设备之一。CIT系列机型针对不同用户、不同工艺要求...
更新:2015-03-23
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硅片自动排片机
硅片自动排片机硅片排片机是根据太阳能硅片生产企业实际生产需要设计改进、制造的水床式三工位硅片装片机；一次装片75片。特有的花篮定位治具能适应6吋/8吋硅片的快速转换，操作简单，工作可靠。
更新:2015-03-23
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装片冷却一体机
装片房与冷却房一体机，并可以升降（可根据客户要求定制）节省空间，降低成本
更新:2015-03-23
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制绒段硅片上料机-下料机
制绒清洗上料机是将硅片从硅片放置盒中自动放置到制绒清洗机上的设备，本设备的主要部件大量选用日本进口部件，电器部分100%国外品牌，选用防腐材料，保证了恶劣的环境下本设备的长寿命和高可靠性，设计紧凑，占地面积少，碎片率极低，能很好的保证客户的利益。本着光伏自动化设备制造经验，强大的...
更新:2015-03-23
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硅片导片机
GSM全自动硅片导片机系列：专门用于将方形硅片互相入到片盒中去。装片类型涵盖单晶，多晶，硅片尺寸兼容125（5″），156（6″），片盒尺寸兼容25片装 、50片装，100片装，具体规格可根据客户要求设计制造。
更新:2015-03-23
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硅片翻片机
硅片翻片机 硅片翻转机 硅片分片机硅片尺寸：兼容125x125156x156最大产能：1500片/ 小时暂存数：50片电压：220v堵片报警碎片报警智能数控
更新:2015-03-23
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半自动无接触硅片测试仪
(HS-NCS-200SA)
半自动无接触硅片测试仪(HS-NCS-200SA型)可以测量硅片厚度、总厚度变化TTV、弯曲度、翘曲度、单点和总体平整度，该仪器适用于Si，GaAs，InP，Ge等几乎所有的材料，强大的软件功能能够在几秒内测试硅片的厚度、总厚度变化TTV、弯曲度、翘曲度、单点和总体平整度，所有的设计都符合ASTM(美国材料实验...
更新:2014-09-29
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手动无接触硅片测试仪
(HS-NCS-300)
手动无接触硅片测试仪(HS-NCS-300型)可以测量硅片厚度、总厚度变化 TTV 、弯曲度，该仪器适用于 Si ， GaAs ， InP ， Ge 等几乎所有的材料，所有的设计都符合 ASTM( 美国材料实验协会 ) 和 Semi 标准，确保与其他工艺仪器的兼容与统一。
更新:2014-09-29
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硅片缺陷观测仪
(HS-WDI)
硅片缺陷观测仪(HS-WDI)，于对硅片的缺陷进行观察，效果非常明显，包括肉眼无法观测的位错、层错、划痕、崩边等。 实时对图像进行分析、测量和统计，提高传统光学仪器的使用内涵。配合投影仪和计算机等显示、存储设备，能更好的观测和保存研究结果。
更新:2014-09-29
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硅材料碳氧含量测试仪
(HS-OCT-2000)
■适合于硅材料的氧、碳含量的测定；■可实现硅料中氧碳含量自动、快速、准确的测量；■具备完整的谱图采集、光谱转换、光谱处理、光谱分析及输出功能，使得操作更简单、方便、灵活；■全密封防潮、防尘干涉仪的设计使仪器对环境的适应能力更强；■外置式红外光源部件的设计使得仪器具有更高的热学稳定性...
更新:2014-09-29
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金属四探针电阻率方阻测试仪
(HS-MPRT-5)
阳光的金属四探头电阻率方阻测试仪（HS-MPRT-5）是用来测量硅晶块、晶片电阻率及扩散层、外延层、ITO导电箔膜、导电橡胶等材料方块电阻的小型仪器.本仪器按照半导体材料电阻率的国际及国家标准测试方法有关规定设计。 它主要由电器测量部份（主机）及四探头组成，需要时可加配测试架。 为减小体积，...
更新:2014-09-29
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